تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۲۵ ثانیه یافت شد.

1. IDDQ testing of VLSI circuits

پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است